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全自動(dòng)芯片ESD測試設備

簡(jiǎn)要描述：Hanwa ESD HED-G5000 全自動(dòng)芯片ESD測試設備
近年來(lái)，自動(dòng)駕駛技術(shù)逐漸成為T(mén)ier1汽車(chē)電子智能系統的超前先進(jìn)技術(shù)，解決自動(dòng)駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于提升自動(dòng)駕駛芯片的可靠性，保障汽車(chē)運行中的安全。目前國內尚未有關(guān)于汽車(chē)芯片可靠性的標準，而是基于國際AEC-Q100系列標準而進(jìn)行汽車(chē)芯片可靠性測試，其中一環(huán)節就是要對汽車(chē)芯片進(jìn)行CDM和HBM的靜電相關(guān)測試。

  • 產(chǎn)品型號：HED-G5000
  • 廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間：2024-06-12
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量：1384

詳細介紹

日本Hanwa-HED-G5000全自動(dòng)HBM/MM/Latch-up測試機、HANWA ESD測試機

全自動(dòng)芯片ESD測試設備產(chǎn)品概要：

HANWA新一代G5000系列ESD 全自動(dòng)靜電破壞檢測機已上市，搭載多Pin腳無(wú)繼電器的GND模組（最高支持MAX2048pin），全不受寄生電容的影響，實(shí)現高精度檢測。此設備是符合日本及國際標準的高可靠性設備 （滿(mǎn)足JEITA / ESDA / JEDEC規格）可用于閂鎖測試，并適用脈沖電 流法·電源過(guò)電壓·ESD脈沖印加法。汽車(chē)電子AEC-Q100標準，車(chē)規級集成電路可靠性靜電HDM/CDM測試。

技術(shù)優(yōu)勢：

1、適應以下國際標準波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA。
2、該系統特別的短路放電電路可通過(guò)其原始機械設計實(shí)現。
3、短路最大限度地減少電感和電容對數據的影響。
4、使用單個(gè)電路可確保每個(gè)器件引腳的數據穩定性。

全自動(dòng)芯片ESD測試設備主要應用：

芯片靜電破壞自動(dòng)測定裝置。

全自動(dòng)芯片ESD測試設備




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