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當前位置：首頁(yè)  >  產(chǎn)品展示  >  探針臺系統  >  GP探針臺系列  >  GP200SiPH硅光探針臺

硅光探針臺

簡(jiǎn)要描述：硅光探針臺,GP200-SIP系列8英寸探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置，在短時(shí)間內可準確地完成芯片的參數測試與提取。
GP200擁有穩定且可靠的測試平臺，保證測試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學(xué)系統結合分辨率＜2μm的針座系統，確保扎針的穩定性。

  • 產(chǎn)品型號：GP200SiPH
  • 廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間：2024-11-07
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量：2601

詳細介紹

型號:GP200-SiPH

8英寸硅光測試手動(dòng)探針臺

硅光探針臺應用：GP200-SIP系列8英寸探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置，在短時(shí)間內可準確地完成芯片的參數測試與提取。

XY行程

快速定位行程：210mm×210mm； 精調行程： 210mm×210mm ，

精調分辨率：≤ 1.0 μm；驅動(dòng)方式：手動(dòng)

Z軸行程

10mm；驅動(dòng)方式：手動(dòng)  

Theta旋轉

快速旋轉角度：360°；精調角度：±15°，精調分辨率：＜0.02°；驅動(dòng)方式：手動(dòng)

Chuck臺

尺寸:203mm(8inch) ；真空盤(pán)可調節高度：±5mm

真空快速切換開(kāi)關(guān)，真空調節檔位：Center、2’、4’、8’

安裝方式：真空盤(pán)與主體絕緣

臺面精度

平面度：＜10 μm

快速拉出結構

行程：100mm



 

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