晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡

簡(jiǎn)要描述：晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡進(jìn)料的wafer，經(jīng)過(guò)正反面目檢和顯微鏡正面micro檢查，進(jìn)行檢查和分選。操作員不接觸wafer，避免了污染和損傷wafer。

產(chǎn)品型號：
廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
更新時(shí)間：2024-06-12
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進(jìn)料的wafer，經(jīng)過(guò)正反面目檢和顯微鏡正面micro檢查，進(jìn)行檢查和分選。操作員不接觸wafer，避免了污染和損傷wafer。

晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡性能描述：

標準配備1個(gè)Load port，單臂翻轉Robot，Pre-aligner，目檢臺和顯微鏡。

兼容8寸和12寸wafer。

標準load port可以對應FOUP，AutoFOSB自動(dòng)開(kāi)蓋，具備mapping功能。

高精度運動(dòng)機構，低噪音，低塵，無(wú)需供油。

觸摸屏操作,界面友好。

晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡對應GEM300，采用SEMI標準軟件。

公司為您提供全自動(dòng)晶圓2D/3D AOI光學(xué)檢驗機的參數、價(jià)格、型號、原理等信息，全自動(dòng)晶圓2D/3D AOI光學(xué)檢驗機產(chǎn)地為日本、品牌為--，型號為GBIT-WA-100，價(jià)格為面議，更多相關(guān)信息可咨詢(xún)，公司客服電話(huà)7*24小時(shí)為您服務(wù)。

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