射頻探針是我們在片測試時(shí)不可少的工具，它在射頻產(chǎn)品生命周期中幾乎每一個(gè)階段都起著(zhù)重要作用：從技術(shù)開(kāi)發(fā)，模型參數提取，設計驗證及調試一直到小規模生產(chǎn)測試和最終的生產(chǎn)測試。通過(guò)使用射頻探針，人們便有可能在晶片層次上測量射頻組件的真正特性。這可以將研究和開(kāi)發(fā)時(shí)間縮短并且大大降低開(kāi)發(fā)新產(chǎn)品的成本。
 

　　基本要求和工作原理：
 

　　1、射頻探針的50-Ω平面傳輸線(xiàn)應當直接與DUT壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導線(xiàn)。對于微帶線(xiàn)和隨后的共面探針設計，探針的接觸是用小的金屬球來(lái)實(shí)現的，這個(gè)金屬球要足夠大以保證可靠且可重復性的接觸。
 

　　2、為了能同時(shí)接觸到DUT的信號壓點(diǎn)和接地壓點(diǎn)，需要將探針傾斜。這個(gè)過(guò)程被稱(chēng)為“探針的平面化”。
 

　　3、探針的接觸重復性比同軸連接器的可重復性要好得多。便于進(jìn)行探針極尖和在片標準及專(zhuān)用校準方法的開(kāi)發(fā)。
 

　　4、具有很高重復性的接觸可以進(jìn)行探針的準確校準并將測量參考平面移向其極尖處。來(lái)自探針線(xiàn)和到同軸連接器的過(guò)渡所產(chǎn)生的探針的損耗及反射是通過(guò)由射頻電纜和連接器的誤差相類(lèi)似的方式而抵消的。
 

　　5、由于其很小的幾何尺寸，人們可以假設平面標準件的等效模型純粹是集總式的。此外，人們可以從標準件的幾何尺寸來(lái)很容易地預測模型參數。